CDIMA|易誠高科OLED人工智能校準(zhǔn)全棧解決方案獲兩院院士認(rèn)可

10月21日,“第四屆國際顯示產(chǎn)業(yè)計量測試高峰論壇暨2019全國顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟年會”在北京召開。

大會發(fā)布了由中國計量測試學(xué)會顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟和易誠高科共同推出的《手機(jī)及顯示屏測試評價報告》,易誠高科也在會上發(fā)布并展示了與中國計量科學(xué)研究院聯(lián)合打造的“OLED Mura檢測及Demura人工智能校準(zhǔn)全棧解決方案”并獲得兩院院士一致認(rèn)可?! ?/p>

CDIMA|易誠高科OLED人工智能校準(zhǔn)全棧解決方案獲兩院院士認(rèn)可

此次大會以“顯乎其微,示乎其大”為主題,邀請到了中國計量測試學(xué)會理事長蒲長城、兩院院士許祖彥院士、譚久彬院士、李天初院士、中國計量科學(xué)研究院副院長滕俊恒、蘇州市計量測試院院長張俊峰、廈門市計量檢定測試院院長蔣淑戀、華東電子測量儀器研究所光電計量校準(zhǔn)中心主任王恒飛等領(lǐng)導(dǎo)和專家出席。

來自信通院、全國平板顯示標(biāo)委會等有關(guān)領(lǐng)導(dǎo),東南大學(xué)、廈門大學(xué)、哈爾濱工業(yè)大學(xué)、北京理工大學(xué)等高校學(xué)者,華為、聯(lián)想、京東方、小米、索尼、維信諾、易誠高科、宸鴻科技等企業(yè)單位共計200余名業(yè)內(nèi)專家學(xué)者,圍繞企業(yè)創(chuàng)新與轉(zhuǎn)型、產(chǎn)業(yè)融合以及中國顯示產(chǎn)業(yè)全球化等主要議題,探討顯示產(chǎn)業(yè)的前瞻技術(shù)和發(fā)展趨勢。

值得一提的是,本次會上中國計量測試學(xué)會顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟發(fā)布了與易誠高科共同評測的《手機(jī)及顯示屏測試評價報告》。報告圍繞測評背景、測評產(chǎn)品、顯示屏藍(lán)光輻射水平測評、電子競技顯示屏關(guān)鍵參數(shù)測評、手機(jī)顯示屏關(guān)鍵參數(shù)測評五個方面,揭示并預(yù)測了未來顯示產(chǎn)業(yè)的發(fā)展趨勢,旨在為行業(yè)建立新標(biāo)準(zhǔn)以加快產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)型升級,推動顯示計量測試能力滿足各行業(yè)領(lǐng)域的需求。

易誠高科作為特約參展嘉賓,聯(lián)手中國計量科學(xué)研究院發(fā)布并展示了“OLED Mura檢測及Demura人工智能校準(zhǔn)全棧解決方案”,這也是Mura檢測與人工智能結(jié)合的首次亮相,吸引了現(xiàn)場眾多同行交流互動,并獲得了兩院院士許祖彥院士、譚久彬院士、李天初院士的一致認(rèn)可。  

CDIMA|易誠高科OLED人工智能校準(zhǔn)全棧解決方案獲兩院院士認(rèn)可

許祖彥院士參觀易誠高科展位

CDIMA|易誠高科OLED人工智能校準(zhǔn)全棧解決方案獲兩院院士認(rèn)可

李天初院士參觀易誠高科展位

易誠高科“OLED Mura檢測及Demura人工智能校準(zhǔn)全棧解決方案”,意在為OLED Mura檢測和Demura提供原創(chuàng)的技術(shù)創(chuàng)新與場景落地的可能,為中國OLED顯示產(chǎn)業(yè)賦能,中國企業(yè)作為OLED產(chǎn)業(yè)的參與者正在打破國外廠商在該領(lǐng)域的壟斷地位?! ?/p>

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在峰會的壓軸環(huán)節(jié),易誠高科與Govion、云英谷、天馬、吉迪思、潤正5家國內(nèi)平板顯示頭部企業(yè)展開了近1個半小時的“Mura檢測和Demura”圓桌研討。會議中易誠高科CTO王道寧表示,Mura分級推廣、Mura評測標(biāo)準(zhǔn),對于中國OLED崛起具有重要意義。Mura和DeMura是行業(yè)內(nèi)的重大課題,行業(yè)應(yīng)打通IC廠、手機(jī)終端廠、屏廠、相機(jī)設(shè)備廠等設(shè)備廠商,各級共同發(fā)力才能提高中國顯示產(chǎn)業(yè)質(zhì)量,提升國際話語權(quán)。

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2019-10-24
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10月21日,“第四屆國際顯示產(chǎn)業(yè)計量測試高峰論壇暨2019全國顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟年會”在北京召開。

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